1、 開(kāi)關(guān)損耗=開(kāi)通損耗+關(guān)斷損耗
開(kāi)通損耗:MOS開(kāi)通期間,既有電流,也有電壓,存在開(kāi)通損;
耗關(guān)斷損耗:MOS關(guān)斷期間,既有電流,也有電壓,存在關(guān)斷損耗發(fā)生在開(kāi)和關(guān)期間,與管子的開(kāi)關(guān)頻率成正比
2、 導通損耗
可以通過(guò)選型來(lái)降低損耗,損耗由系統負載電流決定。Rdson很小,Id電流是由負載決定。
改善措施:
1、 增大Igs電流,減少Rg電阻,或者增大驅動(dòng)信號的驅動(dòng)能力,推挽電路,提高驅動(dòng)信號的電壓幅值,不能大于+-20V,有條件+-15V,最好能達到+-12V選型GS電容小的管子,可以選擇快管了;
2、 選型Cdg小的管子,Cgd-米勒電容!
深圳世昌隆電子有限公司核心代理產(chǎn)品線(xiàn)-JJM 捷捷微:車(chē)規MOSFET/車(chē)規TVS管/高中低壓MOSFET/可控硅/IGBT/光耦/各類(lèi)二極管/整流橋;